石墨烯属于二维材料范畴，对新设备和新材料的研发具有重要意义。除了对石墨烯进行原子分辨率成像以了解更多的晶体取向、边缘和缺陷外，石墨烯的功能特性也备受关注。
在本应用中，使用CoreAFM的开尔文探针力显微镜对多层石墨烯进行成像，来究单个薄片上的接触电位差变化。
多层石墨烯薄片是通过石墨的机械剥落和随后转移到硅-硅氧化物基体上而产生的。KPFM测量采用单次运行模式，记录形貌扫描过程中的接触电位。
样品提供: Hiske Overweg, Klaus Ensslin, ETH 苏黎世，瑞士
用直立显微镜定位基体上的薄片，做上标记，使用CoreAFM的顶视摄像头将同一薄片放置在悬臂下，之后记录石墨烯的KPFM数据和AFM图像。
所有测量均由配有Nanosensors公司PPP-EFMR悬臂的CoreAFM 系统执行。石墨烯的AFM图像处理 用的是 MountainsMap SPM。
Nanosurf应用笔记AN01082