HOPG上的低电流测量

导电探针AFM (cAFM) 已成为半导体行业中非常重要的分析工具。掺杂,电导率,表面电势和电流只是cAFM的部分示例。不断改进和发展该技术以扩展其功能,提高其敏感性是必不可少的一个方面。


HOPG上的低电流cAFM测量。 500nm x 500nm; z-范围 80pA
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