陶瓷颗粒上金膜的AFM图像

陶瓷 Al2O3的颗粒大小在2-4µm之间是可见的。使用AFM,可以轻松地研究各个陶瓷颗粒的形状。左侧的陶瓷颗粒清晰可见,而右侧的则可以通过金膜制成陶瓷的颗粒。

40x40µm 图像, z-范围: 200nm
40x40µm 图像, z-范围: 200nm

地形图是在陶瓷和金膜之间的部分获取的。(左方框陶瓷,右方框金)。在(沿地形图的黑色箭头截取)的部分中,没有任何明显的台阶。

40x40µm 图像, z-范围: 300nm

最低值和最高值之间的距离约为300纳米 整个表面的粗糙度,左方框的和右方框的分别显示为43nm,36nm和55nm。因此我们可以看到,金膜的表面粗糙度比未覆盖的陶瓷高50%。由于陶瓷太粗糙,无法测量台阶高度。

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