NaniteAFM — 适用于大样品的原子力显微镜

Flex-ANA — AFM for force mapping

用于大样品测量的紧凑型与模块化原子力显微镜

无比小的尺寸的NaniteAFM测量头使得它可以成为集成安装在自动工业环境下的理想化的原子力显微镜. 因其压纳米级别的分辨率,NaniteAFM可以用来检测与观察最小的表面结构. 简单的操作与多种集成可行性让您的产品分析达到一种全新的水平,如可以检查预期结构或者不规则形状的镀膜, 测量处理过或未处理过材料的表面粗糙度,或者使用附加的AFM测量模式来探测仅仅形貌结构看到不到的特征.NaniteAFM的操作的方便性与可重现性使得它成为了诸如精细加工、产品工艺优化或半导体制造等各种样品表面的最佳质量控制工具.

 

 主要特征与优势

 
可用于单机与大样品台操作的紧凑型与结构稳固的原子力显微镜
简单与快速的探针更换,无需调节激光节省操作时间
自动批处理测量与脚本开发方便系统集成

 

 

 

 应用

 
集成于其他测量分析系统
自动或多点测量
大范围扫描(可拼接)
产品开发/质量控制
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 软件

 
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